简单介绍一下:半导体测试探针

半导体测试探针是用于测试半导体芯片的微小探针，通常由一根非常细的金属针制成。测试探针可以通过与芯片上的引脚或其他测试点接触，测量电气特性和性能参数。测试探针通常由一些机械部件、电子学部件和软件组成，用于控制和测量测试过程。

半导体测试探针

半导体测试探针的使用可以帮助检测半导体芯片的缺陷、故障和性能问题，以确保其质量和可靠性。测试探针在芯片制造过程中的应用非常广泛，包括在研发、生产、质量控制和故障分析等领域。

常见的半导体测试探针包括针式探针、夹子式探针、板式探针和微探针等。针式探针和夹子式探针通常用于测试引脚和信号线，而板式探针和微探针则用于测试芯片表面上的电气特性和物理特性。测试探针的设计和选择通常取决于测试要求、芯片特性和测试设备的特性等因素。